Розробка нових аналітичнх методів визначення ультранизьких вмістів елементів в різних речовинах є насьогодні актуальною для багатьох галузей сучасної науки і техіки. Це зумовлено тим, що сьогодня для вирішення великої кількості задач технології високочистих матеріалів, геології та геохімії, токсикології, екології та іншого, те потрібен контроль вмісту деяких елементів в речовині на рівні 10-8 – 10-11%. В деяких випадках таку чутливість аналіза можуть забезпечити традиційні аналітичні методи або їх модифікації: атомно- абсорбційна і атомно- флуорисцентна сектрометрія, нейтронно- активаційний аналіз, іскрова масс- спектроскопія та інші. Проте в більшості випадків чутливість обмежена рівнем 10-7 %.
Очевидний інтерес для аналітичного застосування являють собою лазерні методи детектування одиничних атомів. Вони засновані на методі лазерного збудження флуорисценції атомів і методі лазерної ступінчатої резонансної фотоіонізації атомів. Проте для прямого використання цих методів в аналітичних задачах необхідно вирішити ряд супутніх проблем. Справа в тому, що задача визначення ультранизьких слідів елементів в аналізованій речовині складається з трьох послідовних етапів:
| 
